Shanghai Composite Index vor weiterem Abverkauf?
ETX Capital: Der Shanghai Stock Exchange Composite Index hat in den letzten zwei Wochen zwei charttechnische Formationen ausgebildet, von denen die eine heute bearish aufgelöst wurde. Im kurzfristigen 30-Minuten-Chart des SSEC-Index ist zu erkennen, dass der Kurs nachhaltig das aufsteigende Dreieck nach unten aufgelöst hat. Kurzfristig bleibt den Bullen jetzt nur noch die untere Begrenzung der Seitwärtsrange, die bei ca. 3200 Punkten liegt und auch heute wieder getestet wurde. An dieser charttechnischen Unterstützungslinie konnte der Kurs des chinesischen Leitindex kurzfristig immer wieder einen Wendepunkt finden.
Der SSEC-Index ist heute mit einer Kursindikation von 3225 Punkten aus dem Handel gegangen und es könnte befürchtet werden, dass die charttechnisch wichtige Marke bei 3200 Punkten nach dem bearishen Ausbruch aus dem Dreieck weiter im Fokus der Trader bleibt. Es könnte weiterhin vermutet werden, dass sich im Bereich um 3200 Punkte die Aktienmarktbullen wiederholt mit neuen Positionen eingedeckt haben, um eine nachhaltige Erholung des Index nicht zu verpassen. Das könnte zu dem Schluss führen, dass viele Bullen ihre Verluststopps im Bereich um das bisherige Crash-Tief gesetzt haben, das bei 2960 Punkten liegt. Sollte also die Region um 3200 Punkte nicht halten, dann wäre aus charttechnischer Sicht ein Test der Crash-Tiefs möglich.
Ein Fazit könnte sein, dass der Markt die Crash-Tiefs vom 25.08.2015 nochmals testen könnte, nachdem sich die charttechnische Situation kurzfristig wieder verschlechtert hat. Nach den ersten beiden großen Abverkaufswellen, die den Index von 5400 Punkten auf 2960 Punkte herabführten, könnte noch eine letzte dritte Abverkaufswelle folgen und den Index unter die alten Crash-Tiefs führen. Auf der anderen Seite könnte die Marke bei 3450 Punkten entscheidend sein. Ein Ausbruch über diesen wichtigen charttechnischen Widerstand könnte den Bullen weiteren Auftrieb geben und zu Anschlusskäufen bei Momentum-Tradern führen.
Von Oliver Bossmann
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